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X熒光元素錄井分析儀
型號：EDX 5500H
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產品說明、技術參數及配置
秉承X熒光光譜儀20多年研發經驗，天瑞元素錄井分析儀EDX5500H再次推動了岩石中元素含量向具體化、快速化方向的發展。將Ｘ射線熒光分析(XRF)用於岩屑錄井這項技術的獨到之處在於：通過岩屑化學元素組合特征的分析來識別岩性，再通過岩性的組合特征分析來判斷層位，因此適合於任何鑽井條件下的岩屑錄井。
真空形成條件及高靈敏半導體探測器保障對岩心中的元素具有超低的檢出限，為錄井平台提供更有意義的具體數據特征；更寬的元素檢出範圍滿足多種元素的同時檢測需求；同時引入了目前先進的4096道數字多道技術，采用進口超薄鈹窗有高激發效率的X射線管，使儀器計數率更高，穩定性更好，適用麵更廣；
優化了光路結構、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；
獨特的抗震性設計，高保護光路設計使得該儀器通過了第三方權威機構高低溫、高低頻電動振動及濕熱等使用認證；
在現場測試、在線檢測以及各類地質勘察多元素檢測中充分發揮作用。
主機標準配置：
上照式光路係統直射模式 FAST-SDD探測器 數字多道處理器 美國進口高壓
進口牛津鈹窗X射線管 智能測試軟件 校正模塊內置 封閉式定向散熱係統
高阻尼可動防震緩衝支腳 定製CCD高清攝像頭
整套設備包括: Ｘ熒光分析主機、電腦、打印機、粉碎機、壓片機、真空泵
錄井行業應用案例
l 岩心成份普查：
僅需簡單前處理，微量多種元素成分盡在掌握。
l 現時分析
能快速、現場追蹤岩心數據，圈定油氣邊界。單個樣品30多種元素測試僅需1~4分鍾；
l 現場分析
獨特的減震、超小的真空腔、超穩固樣品靜態控製結構設計使儀器可以應對各種現場環境的檢測任務；
儀器性能優勢：
儀器外形小巧，簡潔大方，可用於車載和實驗室，使用方法簡單，測試效率高；
測試時上照式光路設計加上真空測試腔有效杜絕現場環中粉塵對探測器的汙染；
準直器大化設計使樣品受激光斑達150mm2 保證測試信號的豐富性，提高測試準確度
封閉式定向風冷散熱保證X射線管工作溫度穩定，延長X射線管壽命；
分析樣品速度快，快可達60S，並且可同時分析40種元素；
高阻尼可動支腳防震設計加上超穩真空控樣設計保證了每一個樣品與光管、探測器幾何關係時刻相一致，屏蔽現場震動所造成的影響；
大麵積厚晶體FAST-SDD探測器，配上Rh靶X光管以及良好的散熱性，有力地確保測試穩定；
X射線屏蔽設計和高分子材料及安全聯動裝置有效保證無輻射外漏，讓測試人員安全放心使用；
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