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    能量色散X熒光光譜儀 XRF

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    X熒光貴金屬檢測儀

    型號:EDX3000PLUS
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    產品說明、技術參數及配置

    天瑞新型X熒光貴金屬檢測儀 EDX 3000 PLUS 在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨到。采用25mm2大麵積探測器,可準確無誤地分析出黃金,鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量,測試結果完全符合國標GB/T 18043-2000要求。

    黃金貴重,儀器貴精。EDX 3000 PLUS閃耀的亮點在於高準確度、高分辨率、更清晰的攝像頭、一鍵式智能操作,一切讓貴金屬檢測如此簡單!

    性能優勢

    高分辨率:
    采用FAST-SDD探測器 ,分辨率可達125ev , 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。

    高準確度,性能優:
    使用25mm2大麵積探測器,大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器技術,提高分析速度,總體提高係統處理能力,計數率大可達8萬,比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。

    清晰攝像頭,準確定位:
    采用新型工業級相機,樣品圖像更加清晰,輕鬆實現精準定位。

    小準直器,輕鬆實現精小部位測試:
    提供多種準直器,直徑小達0.2mm,可輕鬆實現精小部位的準確測試,同時可根據測試需求電動切換準直器,使測量更加輕鬆更加準確。

    一鍵式智能式操作,省去選曲線煩惱:
    FP法的完整使用,隻需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線,操作一步到位。

    儀器配置

    移動樣品平台
    FAST-SDD探測器
    數字多道分析係統
    高低壓電源
    大功率X光管
    計算機及噴墨打印機
    外觀尺寸: 550×416×333mm
    樣品腔尺寸:460×298×98mm
    質量:45Kg

    應用領域

    黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

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